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解决您的测量挑战

半导体与先进电子测试工程从测试系统规划到测量问题诊断，帮助研发与工程团队获得可靠的测试结果。讨论您的测试挑战
解决您的测量挑战

构建正确的测试系统

从测试需求到仪器配置根据测试目标、器件特性和测量要求，规划合理的测试架构、仪器配置与测试方法。了解我们的服务
构建正确的测试系统

为什么测量结果总是不对？

找到问题根因，改善测量结果噪声、漂移、重复性差、仪器间结果不一致？我们帮助您定位测量系统中的问题并找到解决方案。讨论您的测试挑战

测试工程贯穿整个测试链

器件
方法
仪器
系统
数据

合适的仪器并不一定意味着正确的测量结果。

复杂的半导体测量不仅仅取决于仪器规格。连接方式、夹具、接地、屏蔽、测试顺序、器件特性和测量方法都会影响测量结果。

这就是测试工程的重要性所在。

仪器
仪器是否合适？• 电压电流• 分辨率• 精度• 带宽
方法
测量方法是否正确？• 测试顺序• 采样• 直流/脉冲• 2线/4线
系统
整套设备是否协同工作？• 夹具• 接线• 保护• 软件环境

我们能做什么？

提供独立的工程支持，解决复杂测量挑战。
测试系统规划
在您购买设备前先定义测量需求，设计好架构、仪器配置、被测设备接口和未来扩展。
仪器选择建议
根据测量需求的独立选择建议，帮助您选择合适的SMU、示波器、高压源等测试仪器。
测试方法开发
为IV、CV、漏电流、击穿、低电阻、脉冲和瞬态测试等提供可靠、实用的测试方法。
测量问题诊断
诊断噪声、漂移、重复性差、意外结果以及不同仪器之间不一致等复杂测量问题。
测试系统优化
在不更换现有设备的前提下，提升测量性能、测试效率、自动化水平和数据可靠性。

您正在尝试解决什么问题？

我要搭建一个新的测试系统
我们帮您定义架构、选择仪器并规划完整测试方案。
我的测量结果有时不稳定
噪声大、漂移、重复性或一致性差。
我不知道该选择哪些仪器
获得基于应用需求的独立、客观的仪器配置建议。
我的测量结果不符合预期
在购买新的系统前诊断现有系统是否需要更换。

我们专注的应用领域

专注于半导体与先进电子领域苛刻的测试挑战
宽禁带半导体器件
宽禁带半导体器件
SiC & GaN• IV/CV• 漏电流/击穿• 动态性能测量• 可靠性分析
功率半导体器件
功率半导体器件
MOSFET,IGBT & Diode• IV/CV• 漏电流/击穿• 动态性能测量• 可靠性分析
新兴半导体技术
新兴半导体技术
新型器件新材料学术研究

核心测试工程能力

精密IV/CV
• 转移特性• 输出特性• 漏电流测量• 电容测量
高电压
• 高压源• 漏电流测量• 击穿测试• 防护方案
动态测量
• 脉冲IV• 开关特性• dv/dt di/dt• 波形分析
微弱信号测量
• 低电流测量• 低电阻测量• 噪声分析• Guarding
热/光学测量
• 红外测量• 热电关联分析